恒溫恒濕試驗(yàn)箱檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

（恒溫恒濕試驗(yàn)箱檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)）

　　?恒溫恒濕試驗(yàn)箱可以準(zhǔn)確地模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕等復(fù)雜的自然狀環(huán)境，適合電子、電器、通訊、儀表、車(chē)輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：恒溫恒濕試驗(yàn)箱性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求:1.電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB2423.1-89(IEC68-2-1)2.電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB2423.2-89(IEC68-2-2)3.電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T2423.3-93(IEC68-2-3)4.電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)

　　恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿(mǎn)足的標(biāo)準(zhǔn)：1.GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法2.GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法3.GJB150.9-1986《環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》4.GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》5.GJB367.2-1987《通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411濕熱試驗(yàn)6.GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》7.GB-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》8.GB-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》9.GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)10.GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》11.GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》恒溫恒濕試驗(yàn)箱校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)1.電子工業(yè)部第五研究所編寫(xiě)的GB/T5170.1-1995《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》、GB/TS170.2-1996《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備》、GB/T5170-1996《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備等》。2.河北省計(jì)量科學(xué)研究院編寫(xiě)的JJF1101-2003《恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》。3.機(jī)械電子工業(yè)部編寫(xiě)的GBI1158-1989《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB-1989《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB-1899《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB-1989《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB-1989《鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等。