模擬恒溫恒濕高空低氣壓試驗(yàn)箱原理

（模擬恒溫恒濕高空低氣壓試驗(yàn)箱原理）

　　溫度、濕度、高度綜合環(huán)境試驗(yàn)通常是指接近地面或低高度大氣環(huán)境條件的試驗(yàn)，無(wú)論是熱的大氣環(huán)境、冷的大氣環(huán)境，或溫濕型的大氣環(huán)境，當(dāng)高度高于5000m以上，大氣環(huán)境的露點(diǎn)溫度都在0℃以下，盡管此時(shí)的名義相對(duì)濕度值可能接近100%，但空氣止的絕對(duì)含濕量已經(jīng)很低.一般不可能同時(shí)出現(xiàn)高的真空度與高的露點(diǎn)溫度（即高的地對(duì)含濕量）共存。以航空產(chǎn)品使用的環(huán)境條件為例，飛行的海拔高度越高，空氣越稀薄絕對(duì)含濕量也越低，屬于冷性氣候。故一般情況下航空用配套裝備高度與濕度的綜合環(huán)境條件只是在接近地面低空大馬赫數(shù)飛行情況下才可能出現(xiàn)。

　　作為一種特殊的環(huán)境條件，飛機(jī)在高空飛行中，其設(shè)備有可能暴露于凍雨的環(huán)境以及由海水飛沫或海水水霧引起的結(jié)冰環(huán)境，這種環(huán)境試驗(yàn)箱環(huán)境條件是一種高度、低溫、高濕度同時(shí)在在的綜合環(huán)境，如GJB150.22A裝備的“積冰/凍雨"環(huán)境試驗(yàn)。在“積冰/凍雨試驗(yàn)中為了防止噴入試驗(yàn)空間的小水滴在與試驗(yàn)設(shè)備接觸之前過(guò)早地凍結(jié)為冰珠，試驗(yàn)件的初始溫度不應(yīng)低于0℃，以便在水滴結(jié)冰之前的液態(tài)水能充分滲入到試驗(yàn)件的隙縫和裂痕中，以強(qiáng)化由水凝結(jié)成冰過(guò)程中的體積膨脹對(duì)試驗(yàn)件疊加的應(yīng)力效應(yīng)。所以。盡管其環(huán)境條件是高度、低溫、高濕度同時(shí)存在的綜合環(huán)境，但試驗(yàn)開(kāi)始時(shí)，試驗(yàn)件表面溫度和試驗(yàn)件周圍的氣氛溫度原則上應(yīng)保持在冰點(diǎn)溫度以上，等待噴入試驗(yàn)空間的小水滴已經(jīng)附著在試驗(yàn)件表面之后，再降低試驗(yàn)件周圍的氣氛溫度至試驗(yàn)條件給出的低溫環(huán)境。

　　另一方面，民用航空器在飛行中，有可能鉆入水汽含量很高的積水云團(tuán)，此時(shí)，會(huì)出現(xiàn)在7km~10km的飛行高度上由高真空、低溫、低濕的環(huán)境快速轉(zhuǎn)換為高真空、低溫、高濕的環(huán)境條件。因此，在溫度/濕度/高度綜合環(huán)境之外，美國(guó)航空無(wú)線電技術(shù)委員會(huì)RTCADO160C—1989標(biāo)準(zhǔn)中增加了“結(jié)冰"環(huán)境試驗(yàn)的要求，這個(gè)試驗(yàn)對(duì)于安裝在飛行器不同部位的設(shè)備有不同的要求：

　　1）A類設(shè)備：指飛行高度不低于4600m，安裝在飛機(jī)的外部或溫度不控制的區(qū)域內(nèi)的設(shè)備，此處的設(shè)備由于冷浸在低溫（低于零下15℃）條件下，接著又遇到溫度高于冰點(diǎn)的潮濕空氣，導(dǎo)致濕空氣在設(shè)備表面冷凝后出現(xiàn)結(jié)冰或結(jié)霜的現(xiàn)象。A類設(shè)備的結(jié)冰環(huán)境試驗(yàn)通常是在實(shí)驗(yàn)室當(dāng)?shù)氐牡孛娓叨葪l件下進(jìn)行，只需施加溫度、濕度環(huán)境條件。

　　2）B類設(shè)備：指飛行高度不低于7620m，安裝在飛機(jī)的外部或溫度不控制的區(qū)域內(nèi)的設(shè)備，此類試驗(yàn)強(qiáng)調(diào)適用于裝有活動(dòng)部件的設(shè)備，由于結(jié)冰會(huì)使活動(dòng)部件的運(yùn)動(dòng)受到阻礙或限止，或者由于冰的體積膨脹產(chǎn)生的機(jī)械應(yīng)力導(dǎo)致產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)或使用功能遭受損壞。這類試驗(yàn)強(qiáng)調(diào)關(guān)注非密封殼體內(nèi)部逐漸累積起來(lái)的水和冰之間凍結(jié)一熔化一再凍結(jié)反復(fù)作用對(duì)設(shè)備的影響。

　　標(biāo)示了飛行海拔高度為7620m（37.7kPa）時(shí)，溫度以低于3℃/min的變溫速率從-20℃升至≤30℃的過(guò)程中，在16分鐘內(nèi)必須將試驗(yàn)工作空間相對(duì)濕度升至≥95%RH。B類設(shè)備的環(huán)境試驗(yàn)條件中，溫度、濕度、高度會(huì)同時(shí)出現(xiàn)。

　　3）C類設(shè)備：指飛行高度不低于m，安裝在飛機(jī)的外部或溫度不控制的區(qū)域內(nèi)的設(shè)備，此類試驗(yàn)適用于有累積自由水的危險(xiǎn)，而且這些自由水在隨后溫度快速下降的過(guò)程中在設(shè)備的冷表面快速結(jié)成厚厚的冰層，進(jìn)而影響產(chǎn)品的工作性能。這類試驗(yàn)是用來(lái)檢驗(yàn)典型厚度的冰對(duì)設(shè)備性能的影響程度，或者用來(lái)確定必須采取除冰措施之前，產(chǎn)品維持正常功能所允許的最大冰層厚度。C類設(shè)備的結(jié)冰環(huán)境試驗(yàn)是在實(shí)驗(yàn)室當(dāng)?shù)氐牡孛娓叨葪l件下進(jìn)行

　　產(chǎn)品系列:加速老化試驗(yàn)箱

　　測(cè)試使用機(jī)型：高空低氣壓試驗(yàn)箱

　　高空低氣壓試驗(yàn)箱的使用要求

　　許多產(chǎn)品的試驗(yàn)報(bào)告及實(shí)地考察都反映了氣壓降低對(duì)性能的影響，所以就需要用到低氣試驗(yàn)箱,氣壓降任對(duì)產(chǎn)品的直接影響主要實(shí)與壓化產(chǎn)生的壓差作用，這對(duì)于密封產(chǎn)品的外殼會(huì)產(chǎn)生一個(gè)壓力，在這個(gè)壓力的作用下會(huì)使密封破壞。然而氣壓峰任的主意作用還在于因氣樂(lè)降低伴隨著大氣密度的降低及空氣的平均自由程增大,有次會(huì)產(chǎn)品的性能受到很大影響。因此我們?yōu)榱藱z驗(yàn)低壓對(duì)于試驗(yàn)樣品的影響，會(huì)用到低氣壓試驗(yàn)箱進(jìn)行試驗(yàn)。那么使用低壓試驗(yàn)箱又有哪些要求呢?5G半導(dǎo)體芯片器件的高溫試驗(yàn)怎么做？

　　制造廠商:廣東德瑞檢測(cè)設(shè)備有限公司

　　環(huán)境條件

　　溫度:15°C35C:相對(duì)濕度不大于85%·大e氣壓:80kPa106kPa周圍無(wú)強(qiáng)列振動(dòng),無(wú)商氣體·無(wú)陽(yáng)光直接照射或其他冷、熱源直接射:周圍無(wú)強(qiáng)烈氣流,當(dāng)周圍空氣需強(qiáng)制流動(dòng)時(shí)，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上;周圍無(wú)干擾試驗(yàn)箱控制電路的磁場(chǎng)影響:周圍無(wú)高濃度粉塵及腐濁性。