(潮濕對電子元器件造成的危害)
干燥包裝涉及將潮濕敏感性元件與去濕劑、濕度指示卡和潮濕敏感注意標(biāo)貼一起密封在防潮袋內(nèi)。標(biāo)貼含有有關(guān)特定溫度與濕度范圍內(nèi)的貨架壽命、包裝體的峰值溫度、開袋之后的暴露時間、關(guān)于何時要求除濕的詳細情況、去濕程序、以及袋的密封日期。
當(dāng)潮濕氣體會透過封裝材料及元器件的接合面進入到器件的內(nèi)部,一方面造成內(nèi)部電路氧化腐蝕短路,另一方面當(dāng)SMD器件吸濕度率達到0.1wt%時,在電子元器件組裝焊接過程中的高溫會使進入IC內(nèi)部的潮濕氣體受熱膨脹產(chǎn)生足夠的壓力,使塑料從芯片或引腳框上的內(nèi)部分離(脫層)、線捆接損傷、芯片損傷、和不會延伸到元件表面的內(nèi)部裂紋等。
潮濕對電子元器件的危害,已成為一項非常嚴(yán)峻的事情,隨著潮濕敏感性元件使用的增加,諸如薄的密間距元件(fine-pitchdevice)和球柵陣列(BGA,ballgridarray),這個問題就越嚴(yán)重。
為確保潮濕氣體不進入器件中,美國電子工業(yè)聯(lián)合會(IPC)和電子元件焊接工程協(xié)會(JEDEC)之間共同研究制定和發(fā)布了IPC-M-109,潮濕敏感性元件標(biāo)準(zhǔn)和指引手冊。
IPC-M-109統(tǒng)一和修訂了兩個以前的標(biāo)準(zhǔn):IPC-SM-786和JEDEC-JESD-22-A112(這兩個文件現(xiàn)在都過時了)。新的標(biāo)準(zhǔn)包含有許多重要的增補與改動。其中關(guān)于潮濕敏感元件防護的文件有:
潮濕敏感水平SMD防濕包裝拆開后暴露的環(huán)境車間壽命:
1級暴露于小于或等于30°C/85%RH沒有任何車間壽命
2級暴露于小于或等于30°C/60%RH一年車間壽命
2a級暴露于小于或等于30°C/60%RH四周車間壽命
3級暴露于小于或等于30°C/60%RH168小時車間壽命
4級暴露于小于或等于30°C/60%RH72小時車間壽命
5級暴露于小于或等于30°C/60%RH48小時車間壽命
5a級暴露于小于或等于30°C/60%RH24小時車間壽命
6級暴露于小于或等于30°C/60%RH72小時車間壽命
(對于6級,元件使用之前必須經(jīng)過烘焙,并且必須在潮濕敏感注意標(biāo)貼上所規(guī)定的時間限定內(nèi)回流。)
非IC類電子元器件也會受到潮濕的危害。如印刷電路板吸濕度率達到0.2wt%時,也會導(dǎo)致裂紋和分層;繼電器的觸點受潮氧化,導(dǎo)致接觸不良;硅晶體氧化;其它諸如陶瓷器件、液晶器件、石英器件、光電器件、紅外與激光器件、連接線、接插件等等,都會受到潮濕的危害。
該文件的作用是幫助制造廠商確定非IC元件的電子元器件對潮濕的敏感性和防護要求。只要認(rèn)真貫徹執(zhí)行,可將有效地將潮濕對電子元器件的危害降到最低程度。
您可能還對以下內(nèi)容感興趣...